檢測中心提供的

射頻連接器檢測

的適用樣品包括：射頻同軸連接器、射頻三同軸連接器、雙芯對稱射頻連接器、N型連接器、BNC連接器、SMA連接器、SMB連接器、SMC連接器、F型連接器、RCA連接器、DIN連接器、TNC連接器、UHF連接器、MCX連接器等。

檢測項目：

外觀質量、外形尺寸、機械互換性、反射系數、耦合損耗、縱向損耗、在嚴酷機械條件試驗下中心接觸件和外接觸件的連續(xù)性、絕緣電阻、耐電壓檢測、浸水試驗、屏蔽效率、可測量衰減范圍的極限值與重復性、放電試驗（電暈試驗）、錫焊試驗、振動試驗、標準規(guī)保持力、接觸件固定性、夾緊裝置抗電纜拉伸的能力、夾緊裝置抗電纜彎曲的能力、夾緊裝置抗電纜扭轉的能力、連接機構強度、彎曲力矩（剪切力）、安全絲孔強度、沖擊試驗、穩(wěn)態(tài)濕熱試驗、接觸電阻、絕緣電阻、密封性檢測、鹽霧試驗、交變鹽霧試驗、二氧化硫試驗、機械耐久性、高溫耐久性等。

GB/T 11313.1-2013 射頻連接器 第1部分:總規(guī)范 一般要求和試驗方法

GB/T 2421.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 概述和指南

GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db交變濕熱

GB/T 2423.5-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導則：沖擊

GB/T 2423.6-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導則：碰撞

GB/T 2423.10-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc：振動(正弦)

GB/T 2423.17-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧

GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓

GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

GB/T 2423.28-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗T：錫焊

GB/T 2423.32-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ta：潤濕稱量法可焊性

GB/T 2423.38-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導則

GB/T 2423.43-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。