檢測(cè)中心提供的

射頻連接器檢測(cè)

的適用樣品包括：射頻同軸連接器、射頻三同軸連接器、雙芯對(duì)稱射頻連接器、N型連接器、BNC連接器、SMA連接器、SMB連接器、SMC連接器、F型連接器、RCA連接器、DIN連接器、TNC連接器、UHF連接器、MCX連接器等。

檢測(cè)項(xiàng)目：

外觀質(zhì)量、外形尺寸、機(jī)械互換性、反射系數(shù)、耦合損耗、縱向損耗、在嚴(yán)酷機(jī)械條件試驗(yàn)下中心接觸件和外接觸件的連續(xù)性、絕緣電阻、耐電壓檢測(cè)、浸水試驗(yàn)、屏蔽效率、可測(cè)量衰減范圍的極限值與重復(fù)性、放電試驗(yàn)（電暈試驗(yàn)）、錫焊試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、標(biāo)準(zhǔn)規(guī)保持力、接觸件固定性、夾緊裝置抗電纜拉伸的能力、夾緊裝置抗電纜彎曲的能力、夾緊裝置抗電纜扭轉(zhuǎn)的能力、連接機(jī)構(gòu)強(qiáng)度、彎曲力矩（剪切力）、安全絲孔強(qiáng)度、沖擊試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)、接觸電阻、絕緣電阻、密封性檢測(cè)、鹽霧試驗(yàn)、交變鹽霧試驗(yàn)、二氧化硫試驗(yàn)、機(jī)械耐久性、高溫耐久性等。

GB/T 11313.1-2013 射頻連接器 第1部分:總規(guī)范 一般要求和試驗(yàn)方法

GB/T 2421.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db交變濕熱

GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊

GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞

GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦)

GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧

GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓

GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T：錫焊

GB/T 2423.32-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ta：潤(rùn)濕稱量法可焊性

GB/T 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則

GB/T 2423.43-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝

檢測(cè)流程步驟

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