檢測(cè)范圍包括點(diǎn)顯器、盲人點(diǎn)顯器、點(diǎn)字器等。

檢測(cè)項(xiàng)目：

外觀和結(jié)構(gòu)試驗(yàn)、點(diǎn)顯單元的結(jié)構(gòu)與試驗(yàn)、盲文信息處理試驗(yàn)、接口試驗(yàn)、功能試驗(yàn)、性能試驗(yàn)、安全試驗(yàn)、電源適應(yīng)性試驗(yàn)、電磁兼容性試驗(yàn)、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)、可靠性試驗(yàn)、限用物質(zhì)的限量測(cè)定試驗(yàn)等。

GB/T 41182-2021 盲文點(diǎn)顯器通用技術(shù)規(guī)范

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T 2423.3 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.7-2018 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec：粗率操作造成的沖擊(主要用于

設(shè)備型樣品)

GB/T 2423.10 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦)

GB/T 4857.2 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第2部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理

GB/T 4857.5 包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法

GB 4943.1 信息技術(shù)設(shè)備 安全 第1部分：通用要求

GB/T 5080.7 設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案

GB/T 6107 使用串行二進(jìn)制數(shù)據(jù)交換的數(shù)據(jù)終端設(shè)備和數(shù)據(jù)電路終接設(shè)備之間的接口

GB/T 9254-2008 信息技術(shù)設(shè)備的無(wú)線電騷擾限值和測(cè)量方法

GB/T 15720-2008 中國(guó)盲文

GB/T 17618 信息技術(shù)設(shè)備 抗擾度 限值和測(cè)量方法

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。