電子數(shù)顯高度卡尺檢測(cè)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么？實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)GB/T 21390-2008《游標(biāo)、帶表和數(shù)顯高度卡尺檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗(yàn)方法，對(duì)電子數(shù)顯高度卡尺電子數(shù)顯器的性能檢測(cè)等項(xiàng)目進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。
檢測(cè)對(duì)象
電子數(shù)顯高度卡尺
檢測(cè)項(xiàng)目
電子數(shù)顯器的性能檢測(cè)
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 21390-2008《游標(biāo)、帶表和數(shù)顯高度卡尺檢測(cè)
相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
引用標(biāo)準(zhǔn)
《GB/T2423.3-1993》
《GB/T2423.22-2002》
《GB4208-1993》
《GB/T17163》
《GB/T17164》
《GB/T17626.2-1998》
《GB/T17626.3-1998》
被引用標(biāo)準(zhǔn)
《GB/T1214.3-1996》
《GB/T1214.1-1996》
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檢測(cè)流程步驟
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