低溫檢測標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007。只做：溫度≥-70℃。

高溫檢測標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007。只做：溫度≤300℃。

濕熱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：溫度(10～95)℃,濕度：(20～98)%RH

4、交變濕熱試驗(yàn)：

5、振動試驗(yàn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC60068-2-64:1993。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。

6、溫度變化試驗(yàn)：

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)：

8、跌落試驗(yàn)：

9、機(jī)械沖擊試驗(yàn)：

10、碰撞試驗(yàn)：

11、傾跌與翻倒：

12、砂塵試驗(yàn)：

13、鹽霧試驗(yàn)：

人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006;

14、溫度沖擊試驗(yàn)：

15、IP防護(hù)等級(外殼防護(hù)試驗(yàn))：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008，IEC60068-2-18:2000。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合 GB/T2423.59-2008。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 GB/T2423.102-2008。

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案：GB/T 5080.7-1986，IEC60605-7:1978;

設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982;

可靠性試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)周期設(shè)計(jì) GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994;

可靠性試驗(yàn) 第1部分：試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。