- N +

高溫測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

項(xiàng)目介紹

高溫測(cè)試是模擬產(chǎn)品在貯存、裝配和使用過程中的耐高溫狀況而進(jìn)行的可靠性試驗(yàn),高溫試驗(yàn)也是*長(zhǎng)用的加速壽命測(cè)試。高溫測(cè)試目的是確定*民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。

應(yīng)用范圍

高低溫測(cè)試主要針對(duì)的范圍包括電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料,測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于高低溫呢的溫度和持續(xù)測(cè)試時(shí)間。高低溫溫可能使產(chǎn)品過熱,影響使用安全可靠性,甚至損壞,如:

· 由于各種材料的膨脹系數(shù)不同,導(dǎo)致材料之間的粘結(jié)和遷移

· 使材料性能發(fā)生變化

· 使元器件電性能下降

· 彈性元件的彈性或機(jī)械性能強(qiáng)度降低,縮短產(chǎn)品使用壽命

· 加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化過程,縮短產(chǎn)品使用壽命。

· 橡膠等柔韌性材料的彈性降低,并產(chǎn)生破裂;

· 金屬和塑料脆性增大,導(dǎo)致破裂或產(chǎn)生裂紋;

· 使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下容易發(fā)生脆裂損壞,橡膠材料硬度增大,彈性下降

方法標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考:GB/T 2423.1,GB/T 2423.2, IEC 60068-2-1,IEC 60068-2-2,EN 60068-2-1,EN 60068-2-2 等。

試驗(yàn)參數(shù)

高溫試驗(yàn):試驗(yàn)溫度、試驗(yàn)時(shí)間、升溫速率;

性能影響

高溫試驗(yàn):材料熱老化、龜裂、變色、軟化、熔融、膨脹,或功能性失效等;


檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

返回列表
上一篇:無線射頻測(cè)試(RF)
下一篇:低溫測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)