隨著汽車行業(yè)的發(fā)展及進步，汽車安全成為全球關(guān)注的問題。AEC-Q認證就是國際汽車電子協(xié)會設(shè)立的車規(guī)驗證標準。

AEC-Q認證的范圍

AEC-Q100(集成電路IC)

AEC-Q101(離散組件)

AEC-Q102(離散光電LED)

AEC-Q104(多芯片組件)

AEC-Q200(被動組件)

AEC-Q認證的重要性

想要進入汽車領(lǐng)域，打入汽車電子大廠供應(yīng)鏈，必須取得兩張門票，*張是由北美汽車產(chǎn)業(yè)所推的AEC-Q可靠性標準；第二張門票，則要符合零失效的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標準ISO/IATF 16949規(guī)范。

AEC-Q認證測試項目

加速環(huán)境應(yīng)力測試

偏高濕度、溫度循環(huán)、功率溫度循環(huán)、高溫儲存、鹽霧測試、濕度抵抗、機械沖擊、變頻振動、恒加速應(yīng)力、蓋板扭力測試、芯片切斷、跌落測試

加速壽命模擬測試

高溫工作壽命、早期失效率、熱沖擊、旋轉(zhuǎn)壽命、壽命終止模擬驗證

封裝組合整裝測試

邦線切應(yīng)力/拉力、錫球切應(yīng)力、可焊性、引線完整性、剪切強度、斷裂強度、抗焊接熱、端子強度

芯片晶圓可靠度測試

電遷移、介質(zhì)擊穿、熱載流子注入、負偏壓溫度不穩(wěn)定性、應(yīng)力遷移

電氣特性確認測試

人體模式/機器模式靜電放電、ESD、帶電器件模式靜電放電、閂鎖效應(yīng)、電分配、故障分級、電熱效應(yīng)引起的柵漏、電磁兼容、短路特性描述、軟錯誤率、瞬時電傳導(dǎo)、短路失效電流持久性

瑕疵篩選監(jiān)控測試

部件平均測試、統(tǒng)計良率分析

封裝凹陷整合測試

粗/細漏檢、內(nèi)部水汽含量

破壞性物理分析（DPA）

AEC-Q認證的標準

AEC-Q001 零件平均測試指導(dǎo)原則

AEC-Q002 統(tǒng)計式良品率分析的指導(dǎo)原則

AEC-Q003 芯片產(chǎn)品的電性表現(xiàn)特性化的指導(dǎo)原則

JEDEC JESD-22 封裝器件可靠性測試方法

MIL-STD-883 微電子測試方式和程序

GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序

EIA -469 破壞性的物理分析

MIL-STD-202 電子和電氣元器件測試方法

J-STD-002 可焊性規(guī)格

MIL-PRF-27 電感/變壓器測試方法

JESD22-A121 測量錫及錫合金表面涂層的錫須生長的測試方法

MIL-STD-202G&sp; 美國國防部電子電氣零部件測試方法

JESD22-A104E 溫度循環(huán)測試方法

JESD22-B100B物理尺寸

JEDEC J-STD-002E JEDEC（固態(tài)）產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性標準全系列（JEDEC+ASTM）-*齊全、*完整及*新版

TS16949汽車行業(yè)生產(chǎn)件與相關(guān)服務(wù)件的組織實施ISO9001的特殊要求

ISO16750-1 道路車輛 - 電氣和電子裝備的環(huán)境條件和試驗

ISO26262道路車輛功能安全標準

GMW3172通用電氣功能元件通用規(guī)范

AEC-Q認證測試失效判定依據(jù)

應(yīng)力試驗后的失效判據(jù)（出現(xiàn)以下任一標準都判定為失效）

1. 不符合規(guī)格書規(guī)定的參數(shù)范圍；

2. 環(huán)境試驗前后參數(shù)值變化未保持在附錄規(guī)定的±x%以內(nèi)，超過要求的都必須由供應(yīng)商和用戶確定；

3. 由于環(huán)境試驗出現(xiàn)物理損壞（遷移、腐蝕、機械破壞、分層等）；

4. 有些物理損壞可能由供應(yīng)商和用戶同意認為僅僅是外觀不良而不影響認證結(jié)果；

5. 如果失效原因被供應(yīng)商和用戶認為是由于處理不當、測試板連接、ESD或其它跟測試條件無關(guān)的原因引起，這些失效可以被忽略，但應(yīng)呈現(xiàn)在報告中。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。