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*飾金、銀覆蓋層厚度的測(cè)定

X射線熒光光譜法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用X射線熒光光譜法測(cè)量*飾金、銀覆蓋層厚度的方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于*飾及其他工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測(cè)定（覆蓋層與基體為非相同材質(zhì))。注:本方法測(cè)定的覆蓋層厚度相當(dāng)于足金或足銀的厚度，可根據(jù)實(shí)際金、銀覆蓋層含盤進(jìn)行折算。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件，其*新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

QB 1131*飾金覆蓋層厚度的規(guī)定（ISO 10713:1992，MOD)

QB 1132*飾銀覆蓋層厚度的規(guī)定

3方法原理

采用X射線熒光光譜法測(cè)量金、銀覆蓋層厚度是通過(guò)檢測(cè)和分析X射線熒光而確定覆蓋層厚度的。每種元素的原子都具有其本身獨(dú)有的電子排列，對(duì)于給定的特征X射線，其能量取決于該原子的原子序數(shù)，因此，不同的材料將產(chǎn)生不同能量的X射線熒光。通過(guò)X射線熒光測(cè)厚儀對(duì)不同材料發(fā)出的特征X射線熒光進(jìn)行能量分辨和強(qiáng)度的檢測(cè)，可以確定材料的特性，從而測(cè)定覆蓋層厚度。

檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)流程步驟

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