鉭電容器檢測(cè)報(bào)告檢測(cè)哪些項(xiàng)目？檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

檢測(cè)項(xiàng)目：

漏電流Io、損耗角正切tanδ（D）、損耗角正切、漏電流Io、漏電流、電容量C、電容量、損耗角正切tanδ（D）、漏電流Io、電容量C、漏電流Io、直流漏電流Io、X射線檢查、內(nèi)部目檢、制樣鏡檢、外部目檢、密封、密封（對(duì)密封電容器）、外形尺寸、泄漏電流、外觀和機(jī)械檢查、威布爾失效率等級(jí)定級(jí)、浪涌、浪涌電流、電壓處理、電容量檢測(cè)、等效串聯(lián)電阻、高低溫特性、耐濕、溫度沖擊、高溫壽命、耐焊接熱、沖擊、可焊性、外部絕緣層的耐電壓、外部絕緣層絕緣電阻、引出端強(qiáng)度、振動(dòng)、損耗角正切值、標(biāo)志耐溶劑、氣候順序、溫度快速變化、電容器耐溶劑、碰撞、穩(wěn)態(tài)濕熱、高、低溫特性、耐久性、阻抗、充電和放電、反向電壓、外觀和尺寸檢查、外部絕緣層的絕緣電阻、高浪涌電流

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、**電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006工作項(xiàng)目0208第2.2條 外部目檢

2、**電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006工作項(xiàng)目0208第2.3條 制樣鏡檢

3、GJB 4027A-2006 **電子元器件破壞性物理分析方法 0207

4、GB/T7213-2003 電子設(shè)備用固定電容器第15部分：分規(guī)范非固體或固體電解質(zhì)鉭電容器 4.9

5、GJB 2283-95 有可靠性指標(biāo)的片式固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范 GJB2283-95

6、GJB4027A-2006 **電子元器件破壞性物理分析 工作項(xiàng)目0207第2.3條

7、GJB 63B-2001 有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范 GJB63B-2001

8、GB/T 7213-2003 電子設(shè)備用固定電容器第十五部分：分規(guī)范非固體或固體電解質(zhì)鉭電容器 4.9

9、GJB 5437-2005 有可靠性指標(biāo)的有引線模壓固體電解質(zhì)鉭電容器通用規(guī)范 GJB5437-2005

10、GJB 63C-2015 固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)范 4.6.8

11、GJB 1312A-2001 非固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范 GJB1312A-2001

12、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009

13、GJB 733B-2011 有失效率等級(jí)的非固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)范 GJB733B-2011

14、GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

15、GJB 63C-2015 固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)范 GJB 63C-2015

16、GB/T7213-2003(IEC60384-15:1992) 電子設(shè)備用固定電容器 第15部分:分規(guī)范 非固體或固體電解質(zhì)鉭電容器

17、GB/T 2423.30-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

18、GB/T 7213-2003(IEC 60384-15:1992) 電子設(shè)備用固定電容器 第15部分:分規(guī)范 非固體或固體電解質(zhì)鉭電容器 4.16

19、GJB 1520-1992 非氣密封規(guī)定電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范 GJB1520-1992

20、GJB63C-2015 固體電解質(zhì)鉭固體電容器通用規(guī)范 4.6.1

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高?？蒲械?。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

因檢測(cè)項(xiàng)目及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，具體請(qǐng)聯(lián)系客服確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。