標(biāo)準(zhǔn)分類中，俄歇能譜涉及到分析化學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、無損檢測(cè)、電子元器件綜合、金屬材料試驗(yàn)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，俄歇能譜涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、綜合檢測(cè)系統(tǒng)、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、化學(xué)、化學(xué)助劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、光學(xué)檢測(cè)儀器、標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量管理、金屬化學(xué)分析方法綜合。
市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 36533-2018 硅酸鹽中微顆粒鐵的化學(xué)態(tài)測(cè)定 俄歇電子能譜法
GB/T 36504-2018 印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜
中華人民共和國(guó)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 32998-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報(bào)告的規(guī)范要求
GB/T 32565-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜(AES)數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求
質(zhì)檢總局，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜檢測(cè)中確定檢測(cè)信號(hào)對(duì)應(yīng)樣品區(qū)域的通則
GB/T 30702-2014 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定
GB/T 29558-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
GB/T 28893-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息
GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測(cè)定
GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
GB/T 25187-2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜.選擇百檢網(wǎng)儀器性能參數(shù)的表述
GB/Z 32494-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的解析
標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
ISO/TR 18394-2016 表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué). 提取化學(xué)信息
ISO/TR 18394-2016 表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué). 提取化學(xué)信息
ISO 17109-2015 表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
ISO 16242-2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
ISO 29081-2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調(diào)整用報(bào)告法
ISO/TR 19319-2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
GOST R ISO 16242-2016 確保測(cè)量一致性的系統(tǒng). 表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué) (AES) 的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
GOST R ISO 16242-2016 確保測(cè)量一致性的系統(tǒng). 表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué) (AES) 的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
BS ISO 17109-2015 表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
BS ISO 17109-2015 表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
BS ISO 16242-2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)(AEC)
BS ISO 16242-2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)(AEC)
BS ISO 20903-2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學(xué).測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果要求的信息
BS ISO 20903-2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學(xué).測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果要求的信息
BS ISO 29081-2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調(diào)整用報(bào)告法
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
NF X21-072-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
NF X21-058-2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜學(xué)和X射線光電子光譜法.測(cè)定峰強(qiáng)度使用的方法和報(bào)告結(jié)果時(shí)需要的信息
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
ASTM E984-2012 用俄歇電子能譜法鑒別化學(xué)效應(yīng)和基體效應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E995-2011 在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應(yīng)用背景消除技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E996-2010 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報(bào)告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
ASTM E1127-2008 俄歇電子能譜學(xué)中的深度壓形的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E984-2006 用俄歇電子能譜法鑒別化學(xué)效應(yīng)和基體效應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E996-2004 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報(bào)告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
ASTM E996-1994(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
JIS K0167-2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學(xué).勻質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感因子的使用指南
韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
KS D ISO 19319-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
KS D ISO 19319-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則
SJ/T 10457-1993 俄歇電子能譜術(shù)深度剖析標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
JB/T 6976-1993 俄歇電子能譜術(shù)元素鑒定方法
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于俄歇能譜的標(biāo)準(zhǔn)
AS ISO 18118-2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法.均質(zhì)材料定量分析中實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏系數(shù)使用指南
檢測(cè)流程步驟
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