*用電子元器件檢測需要根據(jù)標準內(nèi)指定項目、方法進行，GB國標、行標、外標、企標、地方標準。*用電子元器件檢測項目和標準是什么?第三方檢測機構(gòu)提供*用電子元器件檢測報告辦理，工程師一對一服務(wù)，根據(jù)需求選擇對應檢測標準及項目，制定檢測方案后安排實驗室寄樣檢測。*用電子元器件檢測服務(wù)
檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等
報告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL
報告周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品、檢測項目除外。
檢測費用：根據(jù)檢測項目收費，詳情請咨詢。
*用電子元器件檢測項目：
檢測項目：
光電器件DPA試驗、半導體分立器件DPA試驗、聲表面濾波器DPA試驗、開關(guān)DPA試驗、敏感元件和傳感器DPA試驗、濾波器DPA試驗、電容器DPA試驗、電連接器DPA試驗、電阻器DPA試驗、石英晶體和壓電元件DPA試驗、線圈和變壓器DPA試驗、繼電器DPA試驗、集成電路DPA試驗、X射線檢查、內(nèi)部氣體成份分析、內(nèi)部目檢、制樣鏡檢、外部目檢、密封、引出端強度、掃描電子顯微鏡檢查、玻璃鈍化層的完整性檢查、粒子碰撞噪聲檢測、芯片剪切強度、芯片粘接的超聲檢測、鍵合強度、聲學掃描顯微鏡檢查、掃描電子顯微鏡（SEM）檢查、玻璃鈍化層完整性檢查
*用電子元器件檢測標準：
檢測標準：
1、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗方法 方法209
2、GJB 4027A-2006 *用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項目1201、1202
3、GJB4027A-2006 掃描電子顯微鏡檢查
4、SJ 20527A-2003 微波組件通用規(guī)范 4.6.3
5、GJB360A-1996 X射線檢查
6、SJ 20527-1995 微波組件總規(guī)范 4.8.1
7、GJB 4027A-2006 *用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006
8、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級*用半導體器件破壞性物理分析方法 4.3.2
9、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法1018
10、SJ20527A-2003 外部目檢
11、GJB360B-2009 X射線檢查
12、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法2010.1、2013、2014或2017.1
13、GJB548B-2005 掃描電子顯微鏡檢查
14、GJB-4027A-2006 *用電子元器件破壞性物理分析
15、GJB 8481-2015 微波組件通用規(guī)范 4.11.3
16、GJB 4152A-2014 多層瓷介電容器及其類似元器件剖面制備及檢驗方法
17、GJB128A-1997 掃描電子顯微鏡檢查
18、SJ 20642-1997 半導體光電模塊總規(guī)范 4.10.11
19、GJB548A-1996 外部目檢
20、GJB91**-1997 外部目檢
檢測流程
1、確認樣品和需求
2、制定方案
3、報價
4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開始實驗
5、3-15個工作日（特殊樣品除外）完成實驗
6、出具檢測報告，后期服務(wù)。
檢測報告作用：
1、項目招投標：CMA/CNAS資質(zhì)報告;
2、上線電商平臺入駐：質(zhì)檢報告各大電商平臺認可;
3、用作銷售報告：出具具有法律效應的檢測報告，讓消費者更放心;
4、論文及科研：提供的個性化檢測需求;
5、司法服務(wù)：提供科學、公正、準確的檢測數(shù)據(jù);
6、工業(yè)問題診斷：驗證工業(yè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題排查和修正;
百檢檢測特點：
1、檢測行業(yè)覆蓋面廣，滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋，就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務(wù)，讓檢測更準確
4、免費初檢，初檢不收取檢測費用
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短，費用低，服務(wù)周到;
7、實驗室CMA、CNAS、CAL資質(zhì);
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
