檢測(cè)項(xiàng)目：覆層厚度。
檢測(cè)目的：金屬及氧化物覆蓋層厚度測(cè)定。
項(xiàng)目介紹：金屬覆蓋層厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志，它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測(cè)材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝，提應(yīng)。測(cè)量覆蓋層厚度時(shí)有以下幾個(gè)主要的影響因素：1.覆蓋層或覆蓋層基體表面的粗糙度情況，如果很粗糙那么會(huì)影響測(cè)量精度;2.橫斷面的斜度，如果橫斷面不垂直與待測(cè)覆蓋層平面，那么檢測(cè)值將會(huì)偏大;3.覆蓋層變形，試樣制備過(guò)程中如果覆蓋層產(chǎn)生了有害的變形，那么測(cè)量結(jié)果也會(huì)受到影響;4.覆蓋層邊緣倒角，試樣制備時(shí)有不正確的打磨拋光，導(dǎo)致覆蓋層邊緣不平整影響測(cè)量結(jié)果;5.附加鍍層，試樣制備時(shí)為了保護(hù)覆蓋層邊緣，常在待檢測(cè)樣上附加鍍層，附加的鍍層在去除時(shí)也會(huì)影響測(cè)量精度;6，其他的一些影響因素，如：浸蝕、放大倍數(shù)(顯微鏡的視野為覆蓋層厚度的1.5~3倍)、顯微鏡質(zhì)量等均會(huì)對(duì)測(cè)量精度造成影響。
檢測(cè)要求：
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 樣品要求 | 檢測(cè)內(nèi)容 | 適用范圍 |
GB/T 6462-2005 | 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測(cè)量 顯微鏡法 | 取樣橫截面垂直于覆蓋層 | 覆蓋層厚度 | 金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層 |
ASTM B487-1985（2013） | 用橫截面顯微觀察法測(cè)量金屬及氧化層厚度的試驗(yàn)方法 | 金屬覆蓋層、氧化膜層 | ||
ISO 1463-2003 | 金屬和氧化物覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 顯微鏡法 | 金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層 | ||
JIS H8501-1999 | 鍍層的厚度試驗(yàn)方法 | 10mm×10mm正方形 | 金屬覆蓋層、氧化膜層 | |
AS 2331.1.1-2001 R2017 | 金屬及相關(guān)涂層的試驗(yàn)方法1.1：局部厚度試驗(yàn) 截面顯微鏡法 | 取樣橫截面垂直于覆蓋層 | 金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層，不適用于油漆 | |
ASTM B748-1990(2016) | 通過(guò)用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面來(lái)測(cè)量金屬涂層厚度的試驗(yàn)方法 | 金屬覆蓋層、復(fù)合涂層、特別適用于光學(xué)顯微鏡無(wú)法測(cè)量的涂層 |
檢測(cè)流程步驟
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