二氧化鋯檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)是什么第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)支持寄樣、上門(mén)檢測(cè)，主要為公司、企業(yè)、事業(yè)單位、個(gè)體商戶、高?？蒲刑峁悠窓z測(cè)服務(wù)，報(bào)告CMA/CNAS/CAL資質(zhì)，真實(shí)有效。

檢測(cè)費(fèi)用：根據(jù)樣品實(shí)際檢測(cè)項(xiàng)目決定，詳情歡迎來(lái)電咨詢(xún)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、HG/T 4201.1-2011 穩(wěn)定二氧化鋯 第1部分:釔穩(wěn)定二氧化鋯 HG/T 4201.1-2011

2、ISO 21079-1:2008 含氧化鋁、5%-45%二氧化鋯、二氧化硅耐火材料化學(xué)分析替代X射線熒光法—第1部分：設(shè)備、試劑、消解

3、HG/T 2773-2012 二氧化鋯 HG/T 2773-2012

4、YS/T 568.3-2008 氧化鋯、氧化鉿化學(xué)分析方法 硅量的測(cè)定 鉬藍(lán)分光光度法

5、GB/T 4984-2007 含鋯耐火材料化學(xué)分析方法

6、HG/T2773-2012 二氧化鋯 6.14

7、SJ/T 11136-1997 電子陶瓷二氧化鋯材料

8、ISO 21079-3:2008 含氧化鋁、5%-45%二氧化鋯、二氧化硅耐火材料化學(xué)分析替代X射線熒光法—第3部分：火焰原子吸收分光光度法和電感耦合等離子原子發(fā)射光譜法

9、ISO 21079-3:2008 含氧化鋁、5%-45%二氧化鋯、二氧化硅耐火材料化學(xué)分析替代X射線熒光法—第3部分：火焰原子吸收分光光度法和電感耦合等離子原子發(fā)射光譜法 ISO 21079-3:2008

10、GB/T 34333-2017 耐火材料 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜ICP-AES分析方法

11、ISO 21079-1:2008 含氧化鋁、5%-45%二氧化鋯、二氧化硅耐火材料化學(xué)分析替代X射線熒光法—第1部分：設(shè)備、試劑、消解 ISO 21079-1:2008

12、HG/T 2773-2012 二氧化鋯

13、ISO 21079-2:2008 含氧化鋁、5%-45%二氧化鋯、二氧化硅耐火材料化學(xué)分析替代X射線熒光法——第2部分：濕法分析

14、YS/T 568.8-2008 氧化鋯、氧化鉿化學(xué)分析方法 氧化鋯中鋁、鈣、鎂、錳、鈉、鎳、鐵、鈦、鋅、鉬、釩、鋯含量的測(cè)定電感耦合等離子體發(fā)射光譜法

15、HG/T 4201.1-2011 穩(wěn)定二氧化鋯 第1部分:釔穩(wěn)定二氧化鋯 6.6.4.2

16、ISO 21079-2:2008 含氧化鋁、5%-45%二氧化鋯、二氧化硅耐火材料化學(xué)分析替代X射線熒光法——第2部分：濕法分析 ISO 21079-2:2008

17、GB/T 21114-2019 耐火材料 X射線熒光光譜化學(xué)分析 - 熔鑄玻璃片法

檢測(cè)周期：常規(guī)3-7個(gè)工作日，特殊樣品除外，在可行范圍內(nèi)可安排加急。

報(bào)告樣式：紙質(zhì)、電子版、中英文均可。

檢測(cè)流程步驟

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