對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同,對于手持型產(chǎn)品(如手機,MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等,IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞,MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對手持型產(chǎn)品(如手機)則建議落下高度為150cm。試驗的嚴苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。
通過跌落試驗機可以準確觀察到試驗過程中的現(xiàn)象,能較好控制試驗測試條件,滿足試驗的重復度,更好的了解現(xiàn)象發(fā)生的原因,分析在跌落因素下產(chǎn)品的內(nèi)部特性和內(nèi)部現(xiàn)象,如加速度響應等。
跌落測試產(chǎn)品范圍
1.計算機類:電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設備等精密儀器等;
2.電子通信類:手機、射頻器、電子通信元器件等;
3.電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設備;
4.其他:包裝箱、運輸設備等。
跌落測試國家標準介紹
GB/T 2423.7-2018 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec:粗率操作造成的沖擊(主要用于設備型樣品)
GB/T 4857.1-2019 包裝 運輸包裝件基本試驗 第1部分: 試驗時各部位的標示方法
GB/T 4857.23-2021 包裝 運輸包裝件基本試驗 第23部分:垂直隨機振動試驗方法
GB/T 4857.5-1992 包裝 運輸包裝件 跌落試驗方法
檢測流程步驟
溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。