●碳膜電阻器。引線斷裂、基體缺陷、膜層均勻性差、膜層刻槽缺陷、膜材料與引線端接觸不良、膜與基體污染等。
●金屬膜電阻器。電阻膜不均勻、電阻膜破裂、引線不牢、電阻膜分解、銀遷移、電阻膜氧化物還原、靜電荷作用、引線斷裂、電暈放電等。
●線繞電阻器。接觸不良、電流腐蝕、引線不牢、線材絕緣不好、焊點熔解等。
●可變電阻器。接觸不良、焊接不良、接觸**破裂或引線脫落、雜質(zhì)污染、環(huán)氧膠不好、軸傾斜等。
電阻容易產(chǎn)生變質(zhì)和開路故障。電阻變質(zhì)后往往是阻值變大的漂移。電阻一般不進(jìn)行修理，而直接更換新電阻。線繞電阻當(dāng)電阻絲燒斷時，某些情況下可將燒斷處理重新焊接后使用。
電阻變質(zhì)多是由于散熱不良，過分潮濕或制造時產(chǎn)生缺陷等原因造成的，而燒壞則是因電路不正常，如短路、過載等原因所引起。電阻燒壞常見有兩種現(xiàn)象，一種是電流過大使電阻發(fā)熱引起電阻燒壞，此時電阻表面可見焦糊狀，很易發(fā)現(xiàn)。另一種情況是由于瞬間高壓加到電阻上引起電阻開路或阻值變大，這種情況，電阻表面一般沒有明顯改變，在高壓電路經(jīng)?？砂l(fā)現(xiàn)這種故障現(xiàn)象的電阻。
可變電阻器或電位器主要有線繞和非線繞兩種。它們共同的失效模式有：參數(shù)漂移、開路、短路、接觸不良、動噪聲大，機(jī)械損傷等。但是實際數(shù)據(jù)表明：實驗室試驗與現(xiàn)場使用之間主要的失效模式差異較大，實驗室故障以參數(shù)漂移居多，而現(xiàn)場以接觸不良、開路居多。
電位器接觸不良的故障，在現(xiàn)場使用中普遍存在。如在電信設(shè)備中達(dá)9 0 % ，在電視機(jī)中約占8 7 %，故接觸不良對電位器是致命的薄弱環(huán)節(jié)。造成接觸不良的主要原因如下：
●接觸壓力太小、**應(yīng)力松弛、滑動接點偏離軌道或?qū)щ妼?、機(jī)械裝配不當(dāng)，又或很大的機(jī)械負(fù)荷(如碰撞、跌落等)導(dǎo)致接觸**變形等。
●導(dǎo)電層或接觸軌道因氧化、污染，而在接觸處形成各種不導(dǎo)電的膜層。
●導(dǎo)電層或電阻合金線磨損或燒毀，致使滑動點接觸不良。
電位器開路失效主要是由局部過熱或機(jī)械損傷造成的。例如，電位器的導(dǎo)電層或電阻合金線氧化、腐蝕、污染或者由于工藝不當(dāng)(如繞線不均勻，導(dǎo)電膜層厚薄不均勻等)所引起的過負(fù)荷，產(chǎn)生局部過熱，使電位器燒壞而開路;滑動觸點表面不光滑，接觸壓力又過大，將使繞線嚴(yán)重磨損而斷開，導(dǎo)致開路;電位器選擇與使用不當(dāng)，或電子設(shè)備的故障危及電位器，使其處于過負(fù)荷或在較大的負(fù)荷下工作。這些都將加速電位器的損傷。
檢測流程步驟
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